|
Detailní snímky porovnávající povrchovou hladkost
Porovnání hladkosti povrchu mikroskopem AFM
V níže uvedené studii jsou použity snímky zhotovené mikroskopem AFM (Atomic Force Microscope), které porovnávají hrubost povrchu čtyř dentálních výplňových materiálů po vyleštění diamantem impregnovaným leštícím systémem.
Barevná škála topograficky rozlišuje vysoké vrcholky a hlubší prohlubně čtyř produktů –světlem tuhnoucího nano-ionomerního výplňového materiálu Ketac N100, kompozitního materiálu (Tetric EvoCeram®) a dvou pryskyřicí modifikovaných skloionomerních výplňových materiálů (Fuji II™ a Fuji Filling™ LC)

 |  |
Po vyleštění vykázal světlem tuhnoucí nano-ionomerní výplňový materiál Ketac™ N100 vyšší lesk a hladší povrch než dva konkurenční pryskyřicí modifikované skloionomerní výplňové materiály.* Zdroj: Interní data 3M ESPE |
Srovnání odrazu lesku nebo leštitelnosti ukázalo na vynikající výsledek světlem tuhnoucího nano-ionomeru Ketac N100 oproti Fuji II LC a Fuji Filling LC. Výsledky ilustrují vylepšenou estetiku a sníženou hrubost povrchu.* Zdroj: Interní data 3M ESPE |
|